Sie sind hier
E-Book

Entwicklung einer Methode zur Untersuchung der Zusammenhänge zwischen kritischen Designgrößen und Ausfällen bei der Produktion digitaler Logikchips

AutorRoland Zavaczki
Verlagdiplom.de
Erscheinungsjahr2008
Seitenanzahl74 Seiten
ISBN9783836609043
FormatPDF
Kopierschutzkein Kopierschutz/DRM
GerätePC/MAC/eReader/Tablet
Preis38,00 EUR
Inhaltsangabe:Einleitung: Design for Manufacturing (DfM) und Design for Test (DfT) sind der Schlüssel zur wirtschaftlichen Halbleiterproduktion der neuen Technologiegenerationen. Damit ein schnelles Ramp-up mit anschließend hoher Ausbeute erreicht werden kann, ist neben einer großen Robustheit gegenüber Fertigungstoleranzen zunehmend die rasche Identifizierung und Beseitigung der Ausfallursachen gefertigter Chips erforderlich. In der Halbleiterindustrie werden Testergebnisse fehlerhafter Chips in bestimmte Kategorien unterteilt, um Design und Fertigung eine Rückmeldung über die Ausfallursachen zu geben. Fortschreitende Strukturverkleinerungen begünstigen allerdings zunehmend neue Fehlerursachen und haben daher durch längere Lernprozesse eine geringere Ausbeute während der Ramp-up-Phase zufolge. Um dieser Entwicklung standhalten zu können, ist ein engeres Zusammenwirken zwischen Design, Test und Fertigung unter besonderer Beachtung von DfM und DfT notwendig. Das Design muss eine hohe Ausbeute erlauben und der Chip muss effizient zu testen sein. Damit man genauere Informationen über die Fehlerursache eines defekten Chips erhält, müssen die bisherigen Testmöglichkeiten z.B. um adaptives Testen erweitert werden. Fehlerhafte Netze können bereits durch die Scan-Diagnose lokalisiert werden. Durch die Diagnose sehr vieler Chips können statistische Häufungen von Fehlerorten gefunden werden, wodurch relevante Stichproben für eine physikalische Fehleranalyse selektiert werden können. Die Scan-Diagnose ermöglicht also eine detaillierte Analyse mit geringem Testaufwand. Neben der Verbesserung der Testmöglichkeiten ist es von großer Bedeutung, bereits vor der Ramp-up-Phase eines neuen Produkts das Design in seiner erwarteten Ausbeute beurteilen zu können. Random-Yield-Modelle wie die Critical-Area-Analyse stellen bereits gute Prognosen, jedoch gibt es in der Realität oft Abweichungen von dieser Beurteilung. Zur Untersuchung von möglichen Einflüssen auf die Ausbeute wird in dieser Masterarbeit eine neue Methodik entwickelt, durch welche der Zusammenhang zwischen Testausfällen, Critical-Area-Analyse und systematischen Fehlern besser erklärt werden kann. Es wird ein Software-Werkzeug entwickelt, welches die unterschiedlichen Formate aus Testergebnissen und Designdaten auf eine einheitliche Form bringen kann. Mit dem Werkzeug werden die Daten eines aktuellen Chips analysiert und auf deren Zusammenhang bewertet. Nach einer kurzen Einführung in die Grundlagen der [...]

Kaufen Sie hier:

Horizontale Tabs

Blick ins Buch

Weitere E-Books zum Thema: Informatik - Algorithmen - Softwaresysteme

Softwaretechnik

E-Book Softwaretechnik
Format: PDF

Software-Projekte geraten oft in Schwierigkeiten: Zeit und Budget werden überschritten; das Projekt tritt auf der Stelle; im schlimmsten Fall wird es ohne Ergebnis abgebrochen. Manche…

Softwaretechnik

E-Book Softwaretechnik
Format: PDF

Software-Projekte geraten oft in Schwierigkeiten: Zeit und Budget werden überschritten; das Projekt tritt auf der Stelle; im schlimmsten Fall wird es ohne Ergebnis abgebrochen. Manche…

Softwaretechnik

E-Book Softwaretechnik
Format: PDF

Software-Projekte geraten oft in Schwierigkeiten: Zeit und Budget werden überschritten; das Projekt tritt auf der Stelle; im schlimmsten Fall wird es ohne Ergebnis abgebrochen. Manche…

Software Engineering

E-Book Software Engineering
Architektur-Design und Prozessorientierung Format: PDF

Das Lehrbuch behandelt alle Aspekte der Software-Entwicklung, besonders aber Methoden und Richtlinien zur Herstellung großer und qualitativ hochwertiger Softwareprodukte. Es vermittelt das zur…

Software Engineering

E-Book Software Engineering
Architektur-Design und Prozessorientierung Format: PDF

Das Lehrbuch behandelt alle Aspekte der Software-Entwicklung, besonders aber Methoden und Richtlinien zur Herstellung großer und qualitativ hochwertiger Softwareprodukte. Es vermittelt das zur…

Weitere Zeitschriften

Archiv und Wirtschaft

Archiv und Wirtschaft

"Archiv und Wirtschaft" ist die viermal jährlich erscheinende Verbandszeitschrift der Vereinigung der Wirtschaftsarchivarinnen und Wirtschaftsarchivare e. V. (VdW), in der seit 1967 rund 2.500 ...

care konkret

care konkret

care konkret ist die Wochenzeitung für Entscheider in der Pflege. Ambulant wie stationär. Sie fasst topaktuelle Informationen und Hintergründe aus der Pflegebranche kompakt und kompetent für Sie ...

CE-Markt

CE-Markt

CE-Markt ist Pflichtlektüre in der Unterhaltungselektronik-Branche. Die Vermarktung von Home und Mobile Electronics mit den besten Verkaufsargumenten und Verkaufsstrategien gehören ebenso zum ...

Computerwoche

Computerwoche

Die COMPUTERWOCHE berichtet schnell und detailliert über alle Belange der Informations- und Kommunikationstechnik in Unternehmen – über Trends, neue Technologien, Produkte und Märkte. IT-Manager ...

SPORT in BW (Württemberg)

SPORT in BW (Württemberg)

SPORT in BW (Württemberg) ist das offizielle Verbandsorgan des Württembergischen Landessportbund e.V. (WLSB) und Informationsmagazin für alle im Sport organisierten Mitglieder in Württemberg. ...

IT-BUSINESS

IT-BUSINESS

IT-BUSINESS ist seit mehr als 25 Jahren die Fachzeitschrift für den IT-Markt Sie liefert 2-wöchentlich fundiert recherchierte Themen, praxisbezogene Fallstudien, aktuelle Hintergrundberichte aus ...

Eishockey NEWS

Eishockey NEWS

Eishockey NEWS bringt alles über die DEL, die DEL2, die Oberliga sowie die Regionalligen und Informationen über die NHL. Dazu ausführliche Statistiken, Hintergrundberichte, Personalities ...