Physikalische Werkstoffdiagnostik
Ein Kompendium wichtiger Analytikmethoden für Ingenieure und Physiker
| Autor | Jürgen Bauch, Rüdiger Rosenkranz |
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| Verlag | Springer Vieweg |
| Erscheinungsjahr | 2017 |
| Seitenanzahl | 103 Seiten |
| ISBN | 9783662539521 |
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| Kopierschutz | Wasserzeichen |
| Geräte | PC/MAC/eReader/Tablet |
| Preis | 69,99 EUR |
Professor Jürgen Bauch, Jahrgang 1956, studierte von 1977 bis 1982 Informationstechnik an der Technischen Universität Dresden und diplomierte mit einem Thema der Mikroelektroniktechnologie. Danach wechselte er an das Institut für Werkstoffwissenschaft (IfWW) der TU Dresden, promovierte und habilitierte sich dort 1986 bzw. 2001. Die Lehrbefugnis (Privatdozent) wurde ihm 2002 erteilt und 2009 folgte die Ernennung zum außerplanmäßigen Professor auf dem Gebiet der Physikalischen Werkstoffdiagnostik. Seit 2003 leitet er die Arbeitsgruppe Werkstoffdiagnostik am IfWW der TU Dresden, die das Röntgenographische Speziallabor betreibt. In der Forschung beschäftigt er sich mit der Neu- bzw. methodischen Weiterentwicklung röntgenographischer Verfahren.
Prof. Bauch ist Autor einer großen Anzahl von Publikationen in referierten internationalen Zeitschriften, Tagungsbeiträgen, Mitautor des Lehrbuches 'Funktionswerkstoffe der Elektrotechnik/ Elektronik' (Hrsg.: Nitzsche, K.; Ullrich, H.-J.) sowie Mitinhaber zahlreicher Patente. Seine Lehrtätigkeit an der TU Dresden umfasst eine Vorlesung auf dem Gebiet der Werkstoffe für Elektrotechniker, Mechatroniker und Energiesystemtechniker sowie mehrere Spezialvorlesungen für Werkstoffwissenschaftler auf den Gebieten der Physikalischen Werkstoffdiagnostik und der Mikroelektronikwerkstoffe.Dr. Rüdiger Rosenkranz, Jahrgang 1957, studierte von 1977 bis 1982 Physik an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, wo er zum Thema ferroelektrische Funktionskeramik diplomierte und später auch promovierte. Danach wechselte er an das Institut für Halbleiter- und Mikrosystemtechnik der TU Dresden. Dort beschäftigte er sich mit mehreren festkörperanalytischen Verfahren und deren Anwendung in der Mikroelektronik. Von 1994 bis 2009 war er in der Abteilung Physikalische Fehleranalyse eines großen Dresdner Mikroelektronikunternehmens tätig. Dort befasste er sich mit der Rasterelektronenmikroskopie, der Focused
Ion Beam Technik und zahlreichen werkstoffdiagnostischen Verfahren. Seit 2009 arbeitet er am Institutsteil Materialdiagnostik des Fraunhofer Instituts für Keramische Technologien und Systeme. Dr. Rosenkranz ist Autor zahlreicher Veröffentlichungen und Tagungsbeiträge und ist Inhaber eines Patents. Auf einer großen Tagung zur Fehleranalyse in der Mikroelektronik in den USA hält er regelmäßig Tutorialvorträge über sein Spezialgebiet, die Fehlerlokalisierung mittels Potenzialkontrast in REM und FIB.
