Entwicklung einer Methode zur Untersuchung der Zusammenhänge zwischen kritischen Designgrößen und Ausfällen bei der Produktion digitaler Logikchips
Inhaltsangabe:Einleitung: Design for Manufacturing (DfM) und Design for Test (DfT) sind der Schlüssel zur wirtschaftlichen Halbleiterproduktion der neuen Technologiegenerationen. Damit ein schnelles…