Inhaltsverzeichnis | 5 |
Vorbemerkung | 11 |
1 Besonderheiten leistungselektronischer Halbleiterbauelemente | 14 |
2 Halbleiterphysikalische Grundlagen | 18 |
2.1 Eigenschaften der Halbleiter, physikalische Grundlagen | 18 |
Kristallgitter | 18 |
Bandstruktur und Ladungsträger | 19 |
Der dotierte Halbleiter | 25 |
Majoritätsträger und Minoritätsträger | 28 |
Beweglichkeiten | 28 |
Driftgeschwindigkeit bei hohen Feldern | 32 |
Diffusion freier Ladungsträger | 33 |
Generation, Rekombination und Trägerlebensdauer | 34 |
Stoßionisation | 42 |
Grundgleichungen der Halbleiter-Bauelemente | 44 |
Erweiterte Grundgleichungen | 45 |
Neutralität | 46 |
2.2 pn-Übergänge | 48 |
Der stromlose pn-Übergang | 48 |
Strom-Spannungs-Kennlinie des pn-Übergangs | 56 |
Sperrverhalten des pn-Übergangs | 60 |
Der pn-Übergang als Emitter | 69 |
2.3 Kurzer Exkurs in die Herstellungstechnologie | 74 |
Kristallzucht | 74 |
Neutronendotierung zur Einstellung der Grunddotierung | 77 |
Epitaxie | 78 |
Diffusion | 79 |
Ionenimplantation | 86 |
Oxidation und Maskierung | 91 |
Randstrukturen | 93 |
Passivierung | 98 |
Rekombinationszentren | 99 |
3 Halbleiterbauelemente | 106 |
3.1 pin-Dioden | 106 |
Aufbau der pin-Diode | 106 |
Kennlinie der pin-Diode | 108 |
Dimensionierung der pin-Diode | 109 |
Durchlassverhalten | 115 |
Berechnung der Durchlass-Spannung | 118 |
Emitter-Rekombination und effektive Trägerlebensdauer | 121 |
Emitter-Rekombination und Durchlass-Spannung | 125 |
Temperaturabhängigkeit der Durchlasskennlinie | 129 |
Relation von gespeicherter Ladung und Durchlass-Spannung | 131 |
Einschaltverhalten von Leistungsdioden | 132 |
Definitionen zum Ausschaltverhalten von Leistungsdioden | 136 |
Durch Leistungsdioden erzeugte Schaltverluste | 143 |
Vorgang beim Abschalten von Leistungsdioden | 147 |
Moderne schnelle Dioden mit optimiertem Schaltverhalten | 156 |
MOS-gesteuerte Dioden | 168 |
Ausblick | 174 |
3.2 Schottky-Dioden | 175 |
Zur Physik des Metall-Halbleiter-Übergangs | 176 |
Kennliniengleichung des Schottky-Übergangs | 177 |
Aufbau von Schottky-Dioden | 180 |
Ohm’scher Spannungsabfall des unipolaren Bauelements | 181 |
Schottky-Dioden aus SiC | 185 |
4 Aufbau- und Verbindungstechnik von Leistungsbauelementen | 282 |
4.1 Problematik der Aufbau- und Verbindungstechnik | 282 |
4.2 Gehäuseformen | 284 |
Scheibenzellen | 285 |
Die TO-Familie und ihre Verwandten | 288 |
Module | 291 |
4.3 Physikalische Eigenschaften der Materialien | 296 |
4.4 Thermisches Ersatzschaltbild und thermische Simulation | 298 |
Transformation zwischen thermodynamischen und elektrischen Größen | 298 |
Eindimensionale Ersatzschaltbilder | 303 |
Dreidimensionales Netzwerk | 305 |
Der transiente thermische Widerstand | 306 |
4.5 Parasitäre elektrische Elemente in Leistungsmodulen | 307 |
Parasitäre Widerstände | 308 |
Parasitäre Induktivitäten | 309 |
Parasitäre Kapazitäten | 313 |
4.6 Zuverlässigkeit | 315 |
Anforderungen an die Zuverlässigkeit | 315 |
Heißsperrdauertest und Gate-Stress-Test | 317 |
Heißlagerung, Tieftemperaturlagerung | 319 |
Sperrtest bei feuchter Wärme | 319 |
Temperaturwechseltest | 320 |
Lastwechseltest | 320 |
Ausblick | 328 |
5 Zerstörungsmechanismen in Leistungsbauelementen | 332 |
5.1 Der thermischer Durchbruch - Ausfälle durch Übertemperatur | 332 |
5.2 Überschreiten der Sperrfähigkeit | 335 |
5.3 Stoßstrom | 336 |
5.4 Dynamischer Avalanche | 340 |
Dynamischer Avalanche in bipolaren Bauelementen | 340 |
Dynamischer Avalanche in schnellen Dioden | 342 |
5.5 Überschreiten des abschaltbaren Stroms in GTOs | 352 |
5.6 Kurzschluss und Latch-up in IGBTs | 353 |
Kurzschlussverhalten von IGBTs | 353 |
Abschalten von Überströmen und dynamischer Avalanche | 358 |
5.8 Ausfallanalyse | 366 |
Anhang | 410 |
A1 Beweglichkeiten in Silizium | 410 |
A2 Beweglichkeiten in 4H-SiC | 411 |
A3 Thermische Parameter wichtiger Materialien | 412 |
A4 Elektrische Parameter wichtiger Materialien | 413 |
Verzeichnis häufig verwendeter Symbole | 414 |
Literaturverzeichnis | 418 |
Sachverzeichnis | 428 |
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