| 1 Einleitung | 11 |
| 1.1 Test im Entwurfsablauf | 12 |
| 1.2 Ziele | 13 |
| 1.3 Allgemeiner Ablauf und Anforderungen | 14 |
| 1.4 Wichtige Konferenzen und wissenschaftliche Zeitschriften | 19 |
| 1.5 Aufbau des Buches | 20 |
| 2 Grundlagen | 23 |
| 2.1 Boolesche Gatter | 23 |
| 2.2 Schaltkreise | 26 |
| 2.3 Zeitverhalten | 28 |
| 3 Klassische Fehlermodelle | 31 |
| 3.1 Haftfehler | 33 |
| 3.2 Pfadverzögerungsfehler | 35 |
| 3.3 Transitionsfehler | 39 |
| 3.4 Mehrfach-Entdeckung | 41 |
| 3.5 Fehlerlistenreduktion | 41 |
| 3.5.1 Fehleräquivalenz | 42 |
| 3.5.2 Fehlerdominanz | 43 |
| 3.6 Einordnung und weitere Themen | 44 |
| 4 Fehlersimulation | 45 |
| 4.1 Basisverfahren zur Fehlersimulation | 46 |
| 4.1.1 Simulation eines einzelnen Testmusters | 47 |
| 4.1.2 Ereignisgesteuerte Simulation einer Testmenge | 49 |
| 4.1.3 Simulation einer Testmenge mit Fault Dropping | 50 |
| 4.2 Parallele Fehlersimulation | 52 |
| 4.2.1 Musterparallele Fehlersimulation | 53 |
| 4.2.2 Fehlerparallele Simulation | 55 |
| 4.2.3 Erweiterungen der parallelen Fehlersimulation | 57 |
| 4.3 Deduktive Fehlersimulation | 59 |
| 4.4 Einordnung und weitere Themen | 60 |
| 5 Deterministische Testmustergenerierung | 63 |
| 5.1 Boolesche Differenz | 64 |
| 5.2 D-Algorithmus | 66 |
| 5.2.1 Fünfwertige Logik L5 | 67 |
| 5.2.2 Implikationen | 68 |
| 5.2.3 Testmustergenerierung für verzweigungsfreie Schaltungen | 70 |
| 5.2.4 Testmustergenerierung für rekonvergente Schaltungen | 73 |
| 5.3 PODEM – Path-Oriented Decision Making | 79 |
| 5.4 FAN – Fanout-Oriented Test Generation | 85 |
| 5.4.1 Unique Sensitization | 87 |
| 5.4.2 Multiple Backtracing | 88 |
| 5.5 Lernverfahren | 91 |
| 5.5.1 Statische Verfahren | 91 |
| 5.5.2 Dynamische Verfahren | 93 |
| 5.6 Boolesche Erfüllbarkeit | 95 |
| 5.6.1 Schaltkreis-zu-KNF-Transformation | 97 |
| 5.6.2 Testmustergenerierung mit Boolescher Erfüllbarkeit | 99 |
| 5.7 Kompaktierung | 103 |
| 5.7.1 Statische Kompaktierung | 103 |
| 5.7.2 Dynamische Kompaktierung | 107 |
| 5.8 Einordnung und weitere Themen | 109 |
| 6 Sequentielle Testmustergenerierung | 111 |
| 6.1 Grundlegende Modellierung | 112 |
| 6.2 Algorithmen | 115 |
| 6.2.1 Strukturelle Verfahren | 116 |
| 6.2.2 Modellierung mittels Boolescher Erfüllbarkeit | 118 |
| 6.2.3 Einsatz von Interpolation | 120 |
| 6.3 Klassen von Schaltkreisen | 124 |
| 6.3.1 Rückkopplungsfreie Schaltkreise | 124 |
| 6.3.2 Mehrere Taktsignale | 125 |
| 6.4 Einordnung und weitere Themen | 127 |
| 7 Design-for-Test (DFT) | 129 |
| 7.1 DFT für kombinatorische Schaltungen | 130 |
| 7.2 DFT für sequentielle Schaltungen | 132 |
| 7.3 Interne Prüfpfade | 135 |
| 7.4 Reduktion der Testanwendungszeit | 139 |
| 7.5 Partielle Prüfpfade | 140 |
| 7.6 Scan-basierter Test für Verzögerungsfehler | 141 |
| 7.7 Boundary Scan | 144 |
| 7.8 Einordnung und weitere Themen | 145 |
| 8 Selbsttest und Testdatenkompression | 147 |
| 8.1 Eingebauter Selbsttest | 147 |
| 8.1.1 Pseudozufällige Testerzeugung mit LFSRs | 150 |
| 8.1.2 Gewichtete Zufallsmuster | 154 |
| 8.2 Ausgangskompaktierung | 157 |
| 8.3 Testdatenkompression | 162 |
| 8.3.1 Illinois Scan | 164 |
| 8.3.2 LFSR Reseeding | 165 |
| 8.3.3 Embedded Deterministic Test | 167 |
| 8.4 Einordnung und weitere Themen | 170 |
| 9 Diagnose | 173 |
| 9.1 Scan-Chain-Diagnose | 175 |
| 9.1.1 Test der Prüfpfade | 176 |
| 9.1.2 Berechnung oberer und unterer Schranken | 177 |
| 9.1.3 Vergleichende Bewertung von Fehlerkandidaten | 179 |
| 9.2 Logikdiagnose | 180 |
| 9.2.1 Antwortabgleich für Haftfehler | 181 |
| 9.2.2 Syndrom-Rückverfolgung für Haftfehler | 185 |
| 9.2.3 Diagnose komplexer Fehler | 188 |
| 9.2.4 Diagnostische Testmustergenerierung | 190 |
| 9.2.5 Einordnung und weitere Themen | 192 |
| 10 Speichertest | 195 |
| 10.1 Fehlermodelle für Speichertest | 195 |
| 10.1.1 Allgemeine Beschreibung von Fehlern im Speicher | 196 |
| 10.1.2 Fehler, die eine Speicherzelle betreffen | 196 |
| 10.1.3 Fehler, die mehrere Speicherzellen betreffen | 198 |
| 10.2 Speichertestmethoden | 199 |
| 10.2.1 Frühe Speichertestmethoden | 199 |
| 10.2.2 March-Tests | 200 |
| 10.3 Selbsttest und Selbstreparatur | 204 |
| 10.4 Einordnung und weitere Themen | 206 |
| 11 Aktuelle Themen | 207 |
| 11.1 Moderne Fehlermodelle | 207 |
| 11.1.1 Mehrfache Entdeckung und erschöpfende Testmuster | 207 |
| 11.1.2 Defektbasierter Test | 208 |
| 11.1.3 Kleine Verzögerungsfehler und Parametervariationen | 209 |
| 11.1.4 Allgemeine Fehlermodellierung | 210 |
| 11.2 Energieverbrauch in der Testanwendung | 211 |
| 11.3 Test 3D-integrierter Schaltungen | 212 |
| 11.4 Einordnung und weitere Themen | 214 |
| A Symboltabelle | 217 |
| Literaturverzeichnis | 219 |
| Index | 235 |
