Technische Unterstützung bei Demenz
Autor | Sibylle Heeg et al. |
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Verlag | Hogrefe AG |
Erscheinungsjahr | 2007 |
Seitenanzahl | 126 Seiten |
ISBN | 9783456943961 |
Format | |
Kopierschutz | Wasserzeichen/DRM |
Geräte | PC/MAC/eReader/Tablet |
Preis | 12,99 EUR |
Sibylle Heeg / Christof Heusel / Elke Kühnle / Stefan Külz / Heike von Lützau-Hohlbein / Heidrun Mollenkopf / Frank Oswald / Richard Pieper / Otto Rienhoff / Rüdiger Schweizer
Technische Unterstützung bei Demenz
Mit Beiträgen von Klaus Großjohann, Alfred Hoffmann und Günther Schwarz. Aus der Reihe der Robert Bosch Stiftung (Hrsg.): Gemeinsam für ein besseres Leben mit Demenz.
Rund eine Million Menschen in Deutschland leiden an Demenz. Die enorme Herausforderung dieser Krankheit für unser Gesundheitssystem und unsere Gesellschaft ist nur zu bewältigen, wenn alle Beteiligten an einem Strang ziehen. Das möchte die Initiative «Gemeinsam für ein besseres Leben mit Demenz» der Robert Bosch Stiftung erreichen. In sieben Werkstätten haben rund 80 Vertreter aus Politik und Verwaltung und von Angehörigenorganisationen gemeinsam mit Wissenschaftlern und Praktikern aus Medizin, Pflege und anderen Disziplinen über die zentralen Probleme des Lebens mit Demenz diskutiert. Die sieben Berichte der Werkstätten fassen das jeweilige Thema zusammen, greifen gute Ansätze in der Praxis auf und geben Handlungsempfehlungen. Sie richten sich an alle, die beruflich direkt oder indirekt mit der Begleitung von Menschen mit Demenz befasst sind, sowie an interessierte Laien und Entscheidungsträger.
Der Einsatz von Technik zur Verbesserung der Lebensqualität von Menschen mit Demenz wird positiv eingeschätzt. Er bewegt sich im Spannungsfeld von viel versprechenden Möglichkeiten, unausgereiften Technologien und ethischen Problemen. Die Autoren plädieren für eine verbesserte Wahrnehmung der Potenziale von Technik und schlagen u. a. Maßnahmen zur Aufklärung und Öffentlichkeitsarbeit vor, ferner die Integration technologischer Lösungen in ein Gesamtpflegekonzept sowie die präzise Dokumentation von Technikeinsatz und seinen Auswirkungen.